型 号：Multimode Application module-ready nanoscope IIId SPM SYSTEM
产 地：美国
设备单价：116.35（万元）
技术指标：1 纵向分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率。用原子力显微镜(AFM)模式石墨样品进行5－10nm范围的扫描成像，测量图像中石墨的台阶高度值，以此值来表征仪器的纵向分辨率；要求测量值在：0.30－0.38nm范围内
2 横向分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率。用原子力显微镜(AFM)模式对云母样品进行5－10nm范围的扫描成像，然后测量图像中相邻云母原子的间距值，以此值来表征仪器的横向分辨率；要求测量值在0.50－0.55nm范围内。
3 噪声水平：<0.3 Å，可持续稳定地达到原子级分辨率。对外界环境具有较高的抗干扰性（有防震系统）。
4 最大扫描范围：大于或等于 100μm*100 μm。
5 样品尺寸范围：大于或等于
6 光学观察辅助系统：在操作原子力显微镜、扫描隧道显微镜的同时，可获得光学图象。
7 扫描电容显微镜配件：通过测量探针与半导体样品之间的微电容变化，得到2D的载流子浓度分布图像，测量范围：1015 - 1020 carriers/cm3，分辨8 温控台部分：大气环境高温/负温（
8 电化学显微镜系统，能够做电化学STM,电化学AFM以及电化学势显微镜。
主要功能：原子力显微镜 (AFM)扫描模式\扫描隧道显微镜（STM）扫描模式